冷热冲击箱主要测试材料对极高温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在最短的时间内完成测试。
热震中产生的化这变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其它物理性值的改变而引起的，采用TST系统，各类产品才能获得完全之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化，TST系统的全数位自动控制，将使您操作简易，得心应手。

元耀牌老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；导体、被动组件、零件接脚氧化试验。电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，金电阻温度传感器（PT-100），辨率0.1℃，自动安全保护装置。