一、仪器的用途 　
TJD-A270线束压接端子截面分析仪是本公司针对线束行业品质检验而专门研发的一款精密检测分析设备，整套系统由端子切割设备、研磨设备、腐蚀清洗、断面图像采集系统、线束端子图片测量分析系统等单元组成，采用人体力学设计，模块化组合，流水线式工作流程，让操作更方便、快捷。全套检测系统可在5分钟内完成一个端子的处理分析，极大地提高了端子断面品质检验的速度。简易的操作、高品质的图像采集系统、精确的测量分析为您的生产保驾护航。
二、仪器特点 　
端子断面分析仪技术是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)通过光电转换器有机地结合在一起，线束剖面分析仪不仅可以通过目镜进行观察，还能在电脑显示屏上观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、测量分析、保存和打印。三、技术参数
1.目镜类 别 放大倍数 视场(mm)
大视野目镜 10X φ20
2.物镜：连续变倍范围 0.7X--4.5X
3.变倍比：6.5：1
4.移动工作距离：250mm
5.光源：
6.系统总放大倍数：7X-400X
7.二维机械载物台移动工作台: 采用滚珠导轨,台板尺寸：180×155×26mm
　移动范围：75×55mm
　玻璃圆台直径：ф95
8.成像系统：日本JVC公司专业CCD
9.测量精度：0.001mm
10.照明光源：全白光源LED灯

四、系统组成
TJD-A200系列：
1、线束端子检测显微镜
2、适配镜
3、摄像器(CCD)
4、图像采集卡
5、端子专用分析软件
6、端子专用设备
五、总放大参考倍数
TJD-A270型： 50-400倍

XPH-300V透反射电脑型热台偏光显微镜，电脑型热台显微镜，高精度热台显微镜，偏光熔点测量仪，
一、仪器的用途 　、

XPH-300V透反射热台偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业最常用的专业实验仪器。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。

　　专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子材料学而研制。观察高聚物熔融和结晶过程中的形态,结晶速率及动力学计算；观察双折射体的光学效应；微生物形貌观察；组织细胞核、壁形态观察；地质材料偏光形态观察；无机晶体材料观察,特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。