B可靠性测试方案
上海炜绫测试技术有限公司

CAF测试系统 CAF离子迁移测试系统 MIR绝缘电阻测试系统 CAF Test System Migration & Insulation Resistance Test System
★离子迁移测试
离子迁移( C A F)测试是评价电子产品或元件的绝缘可靠性的一种测试方法，将样品置于高温高湿度的环境中，并在相邻的两个绝缘网络之间施加一定的直流电压（偏置电压），在长时间的测试条件下，检测两个网络之间是否有绝缘失效。实践证明，将 PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，施加偏置电压，然后每隔一段时间，将 PCB从环境试验箱中取出，进行绝缘电阻测试，这种间断式的测试方法，会漏过很多实际发生的离子迁移。一方面因为将 PCB从环境试验箱中取出， PCB会变得干燥，从而导致绝缘电阻的上升，另一方面，当 PCB在高温高湿的环境试验箱中承受偏置电压时，离子迁移可能随时发生。
有效的 PCB离子迁移测试，需要将 PCB放置于高温高湿的环境试验箱中，并在线路板上焊接电缆线，引出至环境试验箱外的有关测试设备上，以在线路板上施加促进离子迁移发生的偏置电压和进行绝缘电阻测试，同时能实时检测 PCB上的泄漏电流。

★MIR 绝缘电阻测试系统
MIR绝缘电阻测试系统的主要用途为：
PCB基材， PCB，电容，连接器等元件
SMT助焊剂清洗工艺的评价
电子绝缘材料，电缆及线材的绝缘的绝缘可靠性测试 老化性能评估

MIR绝缘电阻测试系统主要特点如下。

●可灵活选择的测试通道数，系统可提供32*n（n=1，2...）不同数量通道。以应对不同批量试样的测试。
●系统模块化结构
●高精度绝缘电阻测试.
●系统集成试验箱温湿度测试（选配）
●Slot测试参数独立设置
●测试电缆检测
●绝缘电阻和漏电流校正
●偏置电压极性可变换（选配）
●灵活的迁移条件设置
●漏电验证测试
●测试过程多画面显示，易懂易操作。
●高速漏电流监测
●样品失效保护
●测试中可以修改测试时间
●测试中途暂停,中断/继续
●测试数据自动保存
●独立的数据分析和报告软件
●测试报告一键输出。

Migration&Insulation Resistance Test System MIR绝缘电阻测试系统产品规格表

参数名称 参数值
型号 MIR100 MIR300
电阻测试通道 32xn（n=1，2，3，4，5，6）按照订货确定
绝缘电阻测试范围 1.0E6-1.0E12Ω
绝缘电阻测量准确度 1.0E6-1.0E8Ω:1%, 1.0E8-1.0E10Ω:5%, 1.0E10-1.0E12Ω:1数量级。
偏置电压 0-100VDC 0-300VDC
偏置电压显示精度 0.1V
漏电流测试范围（@max偏置电压） 0.1uA-100uA 0.3uA-300uA
漏电流检测速度 500～10000mS/所有通道
测试参数设置 各组可独立设置
失效标准 设定值或相对基准下降
测试数据显示 状态表格显示,电阻及变化表格显示,电阻曲线显示
漏电验证测试 可设置漏电发生后验证测试次数和间隔
测试中断和修改 测试中断或暂停后,可以从断点继续测试,测试过程中可以修改测试时间
数据保存 实时自动保存
测试数据分析和报告 独立的测试数据分析软件,一键生成测试报告
系统自检 测试电缆开路和短路检测
校正 绝缘电阻和漏电流校正
测试电缆 屏蔽 耐高温电缆，标准长度 2.5m
选配 3～5m测试电缆；测试电压与偏置电压极性相反； UPS不间断电源； 集成温湿度测试；专用 PCB测试夹具。

●由于产品改进，升级以及其他需要，产品特点、规格、外观以及性能等可能在无预先告知的情况下出现变更。